廣東艾思荔檢測儀器有限公司
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詳細摘要： 不銹鋼HAST高壓加速壽命試驗箱產(chǎn)品用途：不銹鋼HAST高壓加速壽命試驗箱*主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2025-04-05 在線留言
詳細摘要： 高溫高濕高壓加速老化試驗箱用途：高溫高濕高壓加速老化試驗箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈...
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詳細摘要： HAST試驗箱設(shè)備參數(shù)：（可根據(jù)客戶要求定制）HAST試驗箱型號：HAST-25、HAST-35、HAST-45、HAST-65內(nèi)箱尺寸（cm）:Φ25...
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詳細摘要： 非飽和老化試驗箱結(jié)構(gòu)特點：1.非飽和老化試驗箱圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標準，可予防試驗中結(jié)露滴水現(xiàn)象
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也...
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也...
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也...
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詳細摘要： hast高壓加速老化壽命試驗機產(chǎn)品應用:hast高壓加速老化壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量...
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詳細摘要： 兩層式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:兩層式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也...
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詳細摘要： 氧彈老化試驗箱規(guī)格/性能：1、型號PTC-25、內(nèi)箱尺寸∮250×450D(mm)：2、型號PTC-35、內(nèi)箱尺寸∮350×500D(mm)：3、溫度范圍：RT...
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詳細摘要： 高壓加速壽命老化試驗機產(chǎn)品應用:高壓加速壽命老化試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應...
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詳細摘要： 401b老化試驗箱規(guī)格/性能：1、型號PTC-25、內(nèi)箱尺寸∮250×450D(mm)：2、型號PTC-35、內(nèi)箱尺寸∮350×500D(mm)：3、溫度范圍：...
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詳細摘要： 高壓加速老化壽命試驗機產(chǎn)品應用:高壓加速老化壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應...
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詳細摘要： 高壓加速老化試驗機產(chǎn)品應用:高壓加速老化試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： 高溫加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:高溫加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： 人工加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:人工加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： hast高壓加速老化試驗機價格產(chǎn)品應用:hast高壓加速老化試驗機價格隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量...
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詳細摘要： 蒸氣老化試驗箱產(chǎn)品應用:蒸氣老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多
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詳細摘要： hast加速老化箱產(chǎn)品應用:hast加速老化箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： 高度加速壽命試驗箱產(chǎn)品應用:高度加速壽命試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許...
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